MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA
A morfologia da superfície de substratos ou filmes crescidos pode ser investigada através de microscopia por varredura de sonda. Para tal, uma pequena sonda de extremidade muito afiada e que percorre a superfície da amostra a uma distância mínima. Em STM (Scanning Tunneling Microscopy – Microscopia varredura por tunelamento), o que se detecta é a corrente de tunelamento entre a sonda e a amostra condutora, que só é significativa quando a distância entre sonda e amostra é muito pequena. Em AFM, a sonda pode estar em contato com a amostra, mas, na maioria dos casos, está a uma distância muito pequena, da ordem de poucos nanômetros. Nessas condições, as forças resultantes das interações da sonda com os átomos ou moléculas da superfície são significativas.
O LCIS conta com dois microscópios para atender os usuários. Um dos microscópios opera em ultra alto vácuo e está acoplado as câmaras de crescimento via túnel. É um microscópio NANONIS, que se utiliza tecnologia Kolibri (KolibriSensor) que permite medidas em modo de AFM ou de STM. A câmara ainda conta com possibilidade de aquecimento do substrato via feixe de elétrons e também desbaste por feixe de Argônio (sputtering).
Outro microscópio opera em pressão atmosférica. É um Nanosurf FlexAFM com possibilidade de operar nos modos Microscopia de força atômica, Microscopia de força piezo-resposta, Microscopia de força Magnética e microscopia de força Kelvin probe.