CONTATO & EQUIPE
E-mail da Instalação: ipe@lnls.br
Coordenação: Tulio C. R. Rocha
Tel.: +55 19 3512 1292
E-mail: tulio.rocha@lnls.br
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A linha de luz IPÊ1 é dedicada ao espalhamento inelástico de raios-X ressonante (RIXS), espectroscopia de absorção de raios-X (XAS) e espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS) na faixa de raios-X moles (100 – 2000 eV). Estas técnicas complementares de espectroscopia e espalhamento permitem a caracterização da composição química, estrutura eletrônica e excitações elementares em sólidos e sistemas moleculares.
A análise de XAS e XPS usando raios-X moles permite a determinação quantitativa da composição química da região próxima à superfície de amostras sólidas, o que é uma informação crucial para diversas áreas, desde filmes finos e dispositivos eletrônicos até enzimas e catálise. XPS e XAS também são importantes para determinar a estrutura eletrônica dos materiais. O RIXS vai um passo além na compreensão das propriedades dos materiais ao sondar diretamente o espectro e a dispersão de excitações, como éxcitons mágnons e fônons, que determinam várias propriedades de materiais, como magnetismo, condutividade eletrônica, condutividade térmica, polarizabilidade, entre outros.
Essa visão ampla da estrutura eletrônica e excitações fornecidas pela linha IPÊ pode auxiliar não apenas no entendimento das propriedades dos materiais, mas também orientar o design de novos materiais com funcionalidades sob medida. Além disso, pode ser usado para testar modelos teóricos amplamente utilizados para descrever a estrutura eletrônica de sólidos e moléculas.
1 Inelastic scattering and PhotoElectron spectroscopy
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A óptica da linha IPÊ desvia o feixe de raios-X em dois braços permitindo a instalação de duas estações experimentais conectadas permanentemente à linha de luz. Um dessas estações é dedicada a RIXS e a outra a XPS, enquanto ambas podem realizar medidas de XAS.
Importante: propostas envolvendo medidas convencionais de XPS para obter informações como composição de superfície e especiação química, não devem ser executadas na linha IPE, mas submetidas à instalação aberta operando no LNNano (veja aqui) ou realizadas em outras instalações.
XPS é uma técnica espectroscópica quantitativa sensível à superfície baseada no efeito fotoelétrico que pode identificar os elementos que existem dentro de um material (composição elementar) ou estão recobrindo sua superfície (1-10 nm). XPS é uma técnica experimental poderosa porque não apenas mostra quais elementos estão presentes, mas também a quais outros elementos eles estão ligados. XPS e XAS também são importantes para determinar a estrutura eletrônica dos materiais. Enquanto o XPS sonda os estados ocupados dos elétrons profundos e de valência, o XAS mede os estados desocupados projetados no átomo absorvente.
Medidas de XPS devem ser realizadas na linha IPE apenas em casos especiais, nos quais os proponentes demonstrem claramente a necessidade de radiação síncrotron (idealmente apresentando XPS convencional como caracterização prévia na proposta). Exemplos de casos que justificam a utilização de luz síncrotron incluem espécies com concentração abaixo do limite de detecção ou deslocamento químico menor que a resolução de equipamentos convencionais. Outros experimentos de fotoemissão que justificam o uso da linha de luz incluem mapeamentos químicos que exploram o foco micrométrico do feixe de luz, banda de valência utilizando fóton com baixa energia, fotoemissão ressonante e espectroscopia de elétron Auger ressonante. Além destes, experimentos com ambientes de amostra complexos que são inviáveis com instrumentos comerciais, como criostatos, aquecimento in situ, células de deformação, dispositivos com potencial elétrico aplicado, microjatos de líquidos, entre outros, também justificam a utilização da linha IPE.
Em relação a experimentos para medir perfil de profundidade com o uso de energia variável do fóton, uma avaliação cuidadosa é essencial. No caso de amostras com superfícies lisas, estes experimentos justificam o uso da linha de luz apenas em situações onde a rotação da amostra é desafiadora em equipamentos convencionais, impedindo a medida do perfil de profundidade variando-se o ângulo. Este é o caso, por exemplo, de amostras micrométricas ou experimentos em ambientes complexos
A estação XPS é composta por um analisador de elétrons SPECS Phoibos 150 com um detector channeltron de 9 canais conectado a uma câmara principal, que possui um manipulador de 4 eixos (X, Y, Z, θ) que realiza o posicionamento e rotação das amostras no feixe de raios-X. Uma pré-câmara serve tanto para carregamento rápido de amostras quanto para tratamentos térmicos sob atmosfera controlada de gás. O analisador de elétrons é posicionado no plano horizontal em um ângulo fixo de 90o em relação ao feixe de raios-X incidente, mas a amostra pode ser girada para ajustar o ângulo de incidência desejado (θin) e o ângulo de fotoemissão (θout). Vários experimentos são possíveis na estação XPS:
Experimento | Informação | STATUS |
Core-level XPS | Composição e especiação química | Disponível |
Perfil de profundidade | Distribuição de espécies em profundidade | Disponível |
XAS em modo TEY | Ambiente químico local próximo a superfície | Disponível |
XAS em modo TFY | XAS sensível ao bulk | Disponível |
XAS em modo AEY | XAS sensível a superfície | Disponível |
Tratamento em HV | Tratamento térmico ex-situ em vácuo | Disponível |
RAES | Tempo de vida de buracos e dinâmica | Disponível |
RPES | DOS projetada | Disponível |
UPS valência | Estrutura eletrônica, bandas de valência | Disponível |
Sputtering | Limpeza de superficies in situ | Disponível |
Mapeamento químico | Distribuição espacial de espécies | Comissionamento |
Tratamento em gás | Tratamento térmico ex-situ em atmosfera | Desenvolvimento |
Maleta de vácuo | Transferência de amostras em UHV do LCIS | Desenvolvimento |
As amostras para XPS podem ser sólidos em qualquer forma (pó, folhas, filmes finos, compósitos ou cristais), mas devem ser compatíveis com ultra-alto vácuo (UHV). A câmara principal normalmente opera a uma pressão de 1-2 10-8 mbar, mas se o experimento exigir, ela pode ser reduzida a ~ 8 10 -10 mbar (contate equipe). Esteja ciente de que amostras que degasam muito (úmidas ou alta porosidade) devem ser mantidas por mais tempo na pré-câmara até que a pressão segura para transferência seja alcançada. Além disso, as amostras devem ser moderadamente condutoras para evitar o carregamento superficial, que distorce as medidas. No caso de amostras isolantes, um canhão de elétrons está disponível para neutralizar eletricamente a superfície, minimizando o deslocamento de picos e as distorções na forma de linha.
As amostras são normalmente fixadas em chapinhas metálicas que são encaixadas em um porta amostras que é transferido sob UHV para o manipulador. Disponibilizamos dois modelos de porta amostras (~30×30 mm2) que podem acomodar múltiplas amostras e suportes especiais para tratamentos térmicos. As dimensões dos porta amostras podem ser encontrados aqui. Ambientes de amostra personalizados podem ser usados se necessários para a realização do experimento, mas a viabilidade deve ser discutida com a equipe IPE com antecedência. A linha de luz tem uma pequena sala de preparação de amostras com suprimentos, ferramentas e equipamentos comuns usados para a manipulação de sólidos. Entre em contato com a equipe se sua amostra exigir condições especiais de preparação.
Experimentos de XPS na presença de gases ou líquidos NÃO são possíveis com o setup atual.
Por favor, não hesite em entrar em contato com a equipe da linha de luz para obter mais informações sobre amostras e ambientes.
O espalhamento ressonante inelástico de raios X (RIXS) é uma técnica de entrada/saída de fótons que mede a mudança de energia e momento dos fótons espalhados pela amostra. A energia e o momento perdidos no processo inelástico são transferidos para excitações intrínsecas no interior do material em estudo. O RIXS possui algumas características únicas que o distinguem de outras técnicas de esapalhamento inelástico baseadas em nêutrons (INS), elétrons (EELS) ou luz (Raman), comumente usadas para estudar excitações elementares. É sensível ao volume, requer apenas pequenos volumes de amostra, é seletiva a elemento e orbital, dependente da polarização e cobre um grande espaço de fase de espalhamento. Com raios X moles na faixa de 200 a 1200 eV, o RIXS é particularmente útil para estudar metais de transição 3d e elementos leves em óxidos complexos, materiais com elétrons correlacionados, complexos moleculares, catalisadores, metaloenzimas entre outros
A estação experimental RIXS é composta por um espectrômetro de raios-X moles desenvolvido no LNLS com base em uma grade de difração cilíndrica VLS (2000 l/mm) e um detector de área de alta resolução espacial (EMCCD RIXSCAM2). O espectrômetro é conectado a uma câmara de vácuo principal por meio de uma flange rotativa com bombeamento diferencial que permite rotação contínua sob vácuo. A radiação espalhada pela amostra é coletada no plano horizontal em um ângulo 2θ de 30-150 graus em relação ao feixe incidente. O feixe é disperso por uma grade VLS cilíndrica e focalizado em um conjunto de 2 detectores EMCCDs que realizam a contagem de fótons únicos. Um manipulador de alta precisão com 4 eixos (X, Y, Z, θ) realiza o posicionamento das amostras no feixe de raios-X e rotação para controlar a direção da transferência de momento em relação à superfície da amostra. A estação também compreende uma câmara para carregamento rápido de amostras (load lock) e uma câmara de armazenamento temporário de amostras em vácuo. Algumas informações relevantes do status atual encontram-se na tabela abaixo:
Experimento | Informação | STATUS |
RIXS baixa res. | ΔE/E ~ 8000 | Disponível |
Criogenia | Resfriamento com LHe até <10 K | Disponível |
Líquidos | Célula com membrana de Si3N4 | Desenvolvimento |
Monocristal | Rotação chi-phi | Desenvolvimento |
RIXS media res. | ΔE < 100 meV | Desenvolvimento |
RIXS alta res. | ΔE < 50 meV com ondulador longo | Desenvolvimento |
As amostras para RIXS podem ser sólidos em qualquer forma (pós, folhas, filmes finos, compósitos ou cristais), mas devem ser compatíveis com UHV. No entanto monocristais ou filmes finos epitaxiais de alta qualidade são necessários para experimentos em alta resolução ou resolvidos em momento. Normalmente, fixamos as amostras em chapinhas metálicas (SPECS flag style) que são transferidas em UHV para o suporte de amostras no manipulador de alta precisão. A câmara principal normalmente opera a uma pressão de base de 5 10-9 mbar. A câmara não pode ser aquecida (bake-out) devido à vedação especial para rotação contínua. A linha de luz fornece uma sala dedicada para preparação de amostras com suprimentos, ferramentas e equipamentos comuns usados para a manipulação de sólidos. Entre em contato com a equipe se sua amostra exigir condições especiais de preparação.
Ambientes de amostra com diferentes funcionalidades podem ser montados no manipulador, mas devem ser especificados na proposta e discutidos com a equipe da linha de luz com antecedência. Atualmente, temos um inserto padrão que pode receber até 3 chapinhas que opera em temperatura ambiente, um ambiente criogênico (criostato ciclo aberto ColdEdge) que pode receber apenas 1 chapinha por vez. A faixa de temperatura de operação padrão é 25 – 400 K com LHe e 75 – 400 K com LN2. Com a inserção de um escudo de proteção térmica, é possível atingir < 10 K com LHe. Além disso, estamos trabalhando em uma célula estática para líquidos baseada em membranas de Si3N4 e um inserto criogênico com rotações phi-chi em vácuo para alinhamento amostras monocristalinas.
Por favor, não hesite em entrar em contato com a equipe da linha de luz para obter mais informações sobre amostras e ambientes.
A ótica da IPÊ foi projetada especificamente para explorar a fonte de raios-X moles totalmente limitada por difração do anel de armazenamento Sirius, fornecendo poder de resolução muito alto e tamanho de foco pequeno necessários para experimentos de RIXS em alta resolução.
Elemento | Tipo | Posição [m] | Descrição |
Fonte | Dispositivo de inserção | 0 | Ondulador planar (1.2 m/58 mm) |
M1 | Espelho toroidal | 27 | Foco horizontal e colimação vertical |
M2 | Espelho plano | 28.5 | Mudar ângulo de incidência na grade |
M3 | Grades de difração | 29 | Dispersão em energia (1100/400 l/mm) |
M4 | Espelho cilídrico | 31 | Foco vertical na fenda de saída |
M5 | Espelho plano | 33 | Seleção de braços |
M6 | Espelho ellipsoidal | 81 | Microfoco na estação XPS |
M7 | Espelho ellipsoidal | 91.5 | Microfoco na estação RIXS |
M8 | Grade RIXS | 93 | Dispersão em energia (2000 l/mm) |
Parametro | Valor | Condição |
Intervalo de energia | 100 -2000 eV | Polarização horizontal |
Poder de resolução | 60.000 | 930 eV com cff = 5 |
Tamanho do feixe RIXS | 0.8 x 3.4 μm | 930 eV com cff=5 |
Tamanho do feixe XPS | 4 x 5 μm | 930 eV com cff = 2.2 |